無(wú)損檢測(cè)PMI

在 1 秒內(nèi)以出色的精度為大多數(shù)合金提供 PMI。

在 1 秒內(nèi)以出色的精度提供大多數(shù)合金的 PMI。 一些 NDT-PMI 應(yīng)用需要更長(zhǎng)的測(cè)試或多光束測(cè)試。 我們基于 Android 應(yīng)用程序的平臺(tái)提供預(yù)配置的專用應(yīng)用程序，使每個(gè)操作員的質(zhì)量測(cè)試就像使用智能手機(jī)一樣簡(jiǎn)單 – 包括殘留物 (API 751)、硫化物腐蝕 (API 939)、API 5L 和其他測(cè)試的應(yīng)用程序。

針對(duì)殘留物和硫化物腐蝕等關(guān)鍵 PMI 應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。

對(duì)于許多 PMI 應(yīng)用，快速測(cè)試足以驗(yàn)證合金等級(jí)和地球化學(xué)。 更復(fù)雜的應(yīng)用需要更長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間或多光束操作（一束優(yōu)化用于過(guò)渡金屬和重金屬；另一束用于低原子序數(shù)元素 Mg、Si、Al、P 和 S）。 專用應(yīng)用程序確保測(cè)試遵循正確的程序，例如推薦的測(cè)試時(shí)間和 X 射線束設(shè)置。 例如，Residuals 應(yīng)用程序默認(rèn)測(cè)試時(shí)間為 15 秒，因?yàn)樾枰獪y(cè)量 Ni、Cr 和 Cu 各 <0.03%（總和 <0.15%）以及 Nb 和 V<0.02%。 硫化物腐蝕 App 預(yù)先配置為需要雙光束測(cè)試，以測(cè)量鋼中低至 0.03% 的 Si。

專為 NDT 設(shè)計(jì)，PMI 用戶可以訪問(wèn)難以到達(dá)的測(cè)試位置和焊縫。

完美平衡、重量輕、您可以毫無(wú)疲勞地測(cè)試一整天。 狹窄的占地面積允許完全訪問(wèn)幾乎任何測(cè)試位置和焊縫。

報(bào)廢處理

非常適用于高溫合金和貴金屬。

與大多數(shù) XRF 一樣，X-550 對(duì)各種高溫合金、不銹鋼、紅色金屬和貴金屬提供快速、精確的化學(xué)分析。不同之處在于這款金屬框架分析儀的堅(jiān)固性，但重量卻非常輕（< 3 磅）并且完美平衡。用它分類一整天都不會(huì)感到疲勞。機(jī)載手機(jī)攝像頭（微距攝像頭）可對(duì)測(cè)試材料進(jìn)行照片記錄，藍(lán)牙標(biāo)簽打印機(jī)可提供帶有時(shí)間/日期戳、等級(jí) ID 和化學(xué)成分的即時(shí)硬拷貝標(biāo)簽。

采用鋁應(yīng)用程序：在 1-2 秒內(nèi)對(duì)所有鋁合金進(jìn)行分類。

如果您是廢品處理商，那么購(gòu)買 X-550 而不是 X-505 的一個(gè)原因是 驚人的速度和準(zhǔn)確性 在鋁合金上。 X-550 具有我們正在申請(qǐng)專利的鋁 App。 它可以在 1-2 秒內(nèi)對(duì)您的鋁合金進(jìn)行分類，包括那些僅鎂 (Mg) 含量不同的合金。 無(wú)法使用其他 XRF 進(jìn)行分類或需要幾分鐘測(cè)試時(shí)間的等級(jí)，例如 3003/3004/3005、鑄造 356 和 357 以及 2014/2024，只是幾個(gè)例子。 您現(xiàn)在可以經(jīng)濟(jì)地對(duì)許多相似的鋁等級(jí)進(jìn)行分類。 看看我們的“設(shè)立的區(qū)域辦事處外，我們?cè)诿绹?guó)也開設(shè)了辦事處，以便我們?yōu)楫?dāng)?shù)乜蛻籼峁└嗟闹С帧?/p>

污染物磷和硫

X-550 中的高功率 X 射線管可快速分析銅中的磷 (P) 以及鋼和不銹鋼中的磷和硫 (S)，使您能夠經(jīng)濟(jì)地升級(jí)基于低 P 和 S 的銅和鐵材料水平。 X-550 在 P 和 S 上的速度比 X-3 或競(jìng)爭(zhēng) XRF 快 505 倍。 更快的測(cè)試時(shí)間使升級(jí)低 P 和 S 的材料更加經(jīng)濟(jì)。

雜質(zhì)元素

廢料處理已經(jīng)超越了等級(jí)分類。 許多消費(fèi)者現(xiàn)在要求對(duì)普通鋼、鎳和銅合金中的雜質(zhì)或殘留元素進(jìn)行分析。 X-505 針對(duì)常見雜質(zhì)元素的低檢測(cè)限進(jìn)行了優(yōu)化，包括鋼中的 Cr、Ni、Cu、V、Nb、Mo，鎳合金中的 Pb 和 Bi，以及銅合金中的各種不需要的元素。

采礦業(yè)

現(xiàn)在可用于勘探和礦石品位控制應(yīng)用。 可以最快地分析礦石/土壤樣品中的低原子序數(shù)元素，包括 Mg、P、S、Al、Si、Ca 和 K。聯(lián)系我們了解詳情  SciAps XRF 分析儀在全球范圍內(nèi)被許多主要勘探公司和采礦實(shí)驗(yàn)室服務(wù)公司使用。 也可提供用于閉束操作的緊湊型測(cè)試臺(tái)。 

土壤

X-550 可能配備了用于環(huán)境土壤分析 。 分析包包括 8 種 RCRA 金屬和 11 種 EPA 優(yōu)先污染物金屬中的 12 種（鈹除外 ). X-505 符合長(zhǎng)期有效的 EPA 方法 6200。

RoHS 應(yīng)用

X-550 可與我們的RoHS和無(wú)鹵素應(yīng)用，提供對(duì) RoHS 元素 Pb、Cd、Br、總 Cr 和 Hg 以及 Cl 的快速、精確分析，以滿足無(wú)鹵要求。 與 X-550 相比，X-505 中的高功率管提供更快的 Cl 分析。

一般分析

您有獨(dú)特的分析應(yīng)用嗎？ X-505 可以配備我們的經(jīng)驗(yàn)應(yīng)用程序，允許用戶設(shè)置獨(dú)特的光束條件、定義感興趣的特定元素并創(chuàng)建自定義校準(zhǔn)。 對(duì)于合金、礦石和聚合物領(lǐng)域之外的分析要求，X-505 plus Empirical App 為獨(dú)特或?qū)Ｓ械姆治鲆筇峁┝送耆撵`活性。 .

簡(jiǎn)要比較：X-550 與 X-505

高級(jí) X-550 和主力 X-505 型號(hào)之間有何區(qū)別？ 答案很簡(jiǎn)單：在 Mg、Al、Si、P 和 S 等低原子序數(shù)元素上的速度。X-550 在“光束 3”設(shè)置（也稱為低電壓）下以大約 2 倍的 X 射線功率運(yùn)行設(shè)置）與 X-505 或其他手持式 XRF 分析儀相比。 這意味著 Mg、Al、Si、P 和 S（加上其他 App 中的 K、Ca 和 Cl）的測(cè)量強(qiáng)度高出 3 倍，測(cè)量速度提高了 3 倍。 幾個(gè)常見的例子如下所示實(shí)踐應(yīng)用的X 550。

對(duì)于給定的濃度水平，比 X-3 快約 505 倍。

實(shí)際測(cè)試時(shí)間取決于 P 和 S 的具體濃度水平。

分析采礦樣品中的低原子序數(shù)元素

測(cè)量 Mg、Al、Si、P、S、Ca 和 K 的速度比 X-3 快 505 倍。

可以很好地測(cè)量這些元素，速度與其他高端 XRF 相當(dāng)。

X-550 為主要金屬、硫化物和污染物 P 提供更快的測(cè)試時(shí)間。