臺式火花直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。OE750的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和全面質量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。廣泛應用于金屬材料的成分分析。
　　通過樣品在高溫激發(fā)下發(fā)出的光譜特征來確定樣品中元素的種類和含量。這種設備通常具備快速分析能力，能夠在極短的時間內完成金屬元素的光譜分析，顯著提高工作效率。其高精度的分析結果適用于對成分要求嚴格的行業(yè)，如航空航天、汽車制造和高端冶金等領域。
　　設計通常注重用戶體驗和實際操作的便捷性。例如，F(xiàn)OUNDRY-MASTER Smart型號具有非常緊湊的尺寸，重量輕，便于攜帶和操作，同時提供了高分析性能。它的開放式火花臺設計適合各種形狀和尺寸的樣品分析，且具備自動光路校準功能，確保分析的準確性不受溫度漂移影響。這種光譜儀的光學系統(tǒng)通常采用先進的CCD數(shù)碼技術，實現(xiàn)分析光譜的全譜直讀，結合特殊的激發(fā)光源，為金屬材料的成分分析提供了新的解決方案。

　　為什么選擇OE750?
　　1.值得信賴的結果在同類產品中控制雜質和痕量元素的光學分辨率好。
　　2.綜合成本低負擔得起的購買和運行成本，提供更貴分析儀器所具備的性能。
　　3.保持運行不間斷設計可靠，維護和標準化要求極低。
　　4.支持連續(xù)生產分析速度快，啟動時間短，可快速反饋熔液質量。
　　只需一臺價格合理的OE750設備，就能提供快速全面的金屬質量分析，滿足您所有的需求。

　　技術參數(shù)：
　　Spectrometer Optical System光譜儀光學系統(tǒng)
　　-Paschen/Runge mounting Multi-CMOS optics采用帕邢-龍格裝置多塊CMOS光學系統(tǒng)
　　-Diameter Rowland circle:400 mm.羅蘭圓直徑：400 mm
　　-Effective wavelength 119–766nm.波長范圍：119–766nm.
　　-Pixel resolution 7 pm.像素分辨率：7 pm
　　Spark Source火花源
　　-High energy pre-spark(HEPS)高能預燃技術(HEPS)
　　-Computer controlled parameters計算機調節(jié)參數(shù)
　　-Frequency 80–1000 Hz頻率80–1000 Hz
　　-Voltage 250–500 V電壓250–500 V
　　Computer and readout system(external PC)計算機及讀出系統(tǒng)（筆記本電腦，臺式電腦可選）
　　-Intel(R)i3-7100U英特爾i3處理器
　　-Windows 10 operating systems Windows 10操作系統(tǒng)旗艦版
　　-Min.2.40 GHz and 4 GB Ram主頻2.40GHz內存4.00GB
　　-AMD Radeon R5 M330顯卡
　　-Hard disk硬盤容量500GB
　　-CD-burner CD燒錄功能
　　-Fire-Wire,LAN Ethernet防火墻，局域網
　　-Parallel interface并口
　　-Serial(RS 232)Interface系列RS232接口
　　-2 USB Interfaces,2個USB接口，
　　-VGA Video port視頻輸出功能
　　-Battery life 5 hours電池續(xù)航時間5個小時
　　-External,14.1“TFT-LCD–Display 14.1“液晶顯示器
　　-Resolution 1280*800分辨率1280*800
　　-Weight 1.94Kg重量1.94千克